Near interface ionic transport in oxygen vacancy stabilized cubic zirconium oxide thin films

The cubic phase of pure zirconia (ZrO ) is stabilized in dense thin films through a controlled introduction of oxygen vacancies (O defects) by cold-plasma-based sputtering deposition. Here, we show that the cubic crystals present at the film/substrate interface near-region exhibit fast ionic transpo...

Celý popis

Podrobná bibliografia

Vydané v:	Physical chemistry chemical physics : PCCP Ročník 20; číslo 41; s. 26068
Hlavní autori:	Raza, Mohsin, Sanna, Simone, Dos Santos Gómez, Lucia, Gautron, Eric, El Mel, Abdel Aziz, Pryds, Nini, Snyders, Rony, Konstantinidis, Stéphanos, Esposito, Vincenzo
Médium:	Journal Article
Jazyk:	English
Vydavateľské údaje:	England 07.11.2018
ISSN:	1463-9084, 1463-9084
On-line prístup:	Zistit podrobnosti o prístupe
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!