Near interface ionic transport in oxygen vacancy stabilized cubic zirconium oxide thin films

The cubic phase of pure zirconia (ZrO ) is stabilized in dense thin films through a controlled introduction of oxygen vacancies (O defects) by cold-plasma-based sputtering deposition. Here, we show that the cubic crystals present at the film/substrate interface near-region exhibit fast ionic transpo...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical chemistry chemical physics : PCCP Jg. 20; H. 41; S. 26068
Hauptverfasser:	Raza, Mohsin, Sanna, Simone, Dos Santos Gómez, Lucia, Gautron, Eric, El Mel, Abdel Aziz, Pryds, Nini, Snyders, Rony, Konstantinidis, Stéphanos, Esposito, Vincenzo
Format:	Journal Article
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	England 07.11.2018
ISSN:	1463-9084, 1463-9084
Online-Zugang:	Weitere Angaben
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