Measurements of proton hardness factors in silicon at energies between 10 MeV and 25 MeV

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Vydané v:	Journal of instrumentation Ročník 20; číslo 1
Hlavní autori:	Liu, E., Chisholm, A., Gonella, L., Hunter, A.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	English
Vydavateľské údaje:	IOP Publishing 01.01.2025
Predmet:	Radiation damage evaluation methods Radiation damage to detector materials (solid state)
ISSN:	1748-0221
On-line prístup:	Získať plný text
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

Popis
ISSN:	1748-0221
DOI:	10.1088/1748-0221/20/01/P01024