Measurements of proton hardness factors in silicon at energies between 10 MeV and 25 MeV

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	Journal of instrumentation Ročník 20; číslo 1
Hlavní autoři:	Liu, E., Chisholm, A., Gonella, L., Hunter, A.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IOP Publishing 01.01.2025
Témata:	Radiation damage evaluation methods Radiation damage to detector materials (solid state)
ISSN:	1748-0221
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Popis
ISSN:	1748-0221
DOI:	10.1088/1748-0221/20/01/P01024