Proceedings : IEEE Workshop on Multi-View Modeling & Analysis of Visual Scenes : June 26, 1999 Fort Collins, Colorado

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Los Alamitos, Calif IEEE Computer Society 1999
ISBN:0769501109, 9780769501109
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.