Proceedings : IEEE Workshop on Multi-View Modeling & Analysis of Visual Scenes : June 26, 1999 Fort Collins, Colorado

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif IEEE Computer Society 1999
ISBN:0769501109, 9780769501109
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Bibliographie:IEEE Computer Society Order Number : PRO0110
Includes bibliographical references and index
ISBN:0769501109
9780769501109