Within-Project and Cross-Project Software Defect Prediction Based on Improved Transfer Naive Bayes Algorithm

With the continuous expansion of software scale, software update and maintenance have become more and more important. However, frequent software code updates will make the software more likely to introduce new defects. So how to predict the defects quickly and accurately on the software change has b...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Computers, materials & continua Ročník 63; číslo 2; s. 891
Hlavní autori: Zhu, Kun, Zhang, Nana, Shi, Ying, Wang, Xu
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Henderson Tech Science Press 01.01.2020
Predmet:
ISSN:1546-2218, 1546-2226
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.