Within-Project and Cross-Project Software Defect Prediction Based on Improved Transfer Naive Bayes Algorithm
With the continuous expansion of software scale, software update and maintenance have become more and more important. However, frequent software code updates will make the software more likely to introduce new defects. So how to predict the defects quickly and accurately on the software change has b...
Uloženo v:
| Vydáno v: | Computers, materials & continua Ročník 63; číslo 2; s. 891 |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Henderson
Tech Science Press
01.01.2020
|
| Témata: | |
| ISSN: | 1546-2218, 1546-2226 |
| On-line přístup: | Získat plný text |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!