Within-Project and Cross-Project Software Defect Prediction Based on Improved Transfer Naive Bayes Algorithm

With the continuous expansion of software scale, software update and maintenance have become more and more important. However, frequent software code updates will make the software more likely to introduce new defects. So how to predict the defects quickly and accurately on the software change has b...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Computers, materials & continua Ročník 63; číslo 2; s. 891
Hlavní autoři: Zhu, Kun, Zhang, Nana, Shi, Ying, Wang, Xu
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Henderson Tech Science Press 01.01.2020
Témata:
ISSN:1546-2218, 1546-2226
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.