Unsupervised Autoencoder Approach for Precise Line-Type Mura Detection and Classification

Mura refers to surface defects or uneven brightness in panel manufacturing and is classified by severity into light Mura and serious Mura. Due to limited data, traditional object detection is not feasible. Instead, we propose an unsupervised method to classify serious Mura and accurately localize de...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	IEEE International Conference on Consumer Electronics-China (Online) s. 507 - 508
Hlavní autoři:	Chang, Ting-Yu, Lin, Chia-Yu
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 16.07.2025
Témata:	Anomaly localization Autoencoder Autoencoders Computational modeling Consumer electronics Defect detection Inspection Location awareness Manufacturing mura detection Object detection Quality control Unsupervised learning
ISSN:	2575-8284
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!