Defect consideratons for robust sparse coding using memristor arrays

The performance of a memristor network with defects is investigated on a sparse coding task. It was found that moderate levels SA0 faults do not significantly impact algorithm performance, while SA1 faults effectively reduce dictionary size.

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE International Symposium on Nanoscale Architectures S. 137 - 138
Hauptverfasser: Sheridan, Patrick, Lu, Wei D.
Format: Tagungsbericht
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: IEEE 01.07.2015
Schlagworte:
ISSN:2327-8218
Online-Zugang:Volltext
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