Defect consideratons for robust sparse coding using memristor arrays

The performance of a memristor network with defects is investigated on a sparse coding task. It was found that moderate levels SA0 faults do not significantly impact algorithm performance, while SA1 faults effectively reduce dictionary size.

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE International Symposium on Nanoscale Architectures s. 137 - 138
Hlavní autoři: Sheridan, Patrick, Lu, Wei D.
Médium: Konferenční příspěvek
Jazyk:angličtina
Vydáno: IEEE 01.07.2015
Témata:
crossbar
Dictionaries
Electrodes
Encoding
fault tolerance
Memristor
Memristors
Neurons
Performance evaluation
sparse coding
Training
ISSN:2327-8218
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Popis
Shrnutí:The performance of a memristor network with defects is investigated on a sparse coding task. It was found that moderate levels SA0 faults do not significantly impact algorithm performance, while SA1 faults effectively reduce dictionary size.
ISSN:2327-8218
DOI:10.1109/NANOARCH.2015.7180600