Special Session: Fault Criticality Assessment in AI Accelerators

The ubiquitous application of deep neural networks (DNN) has led to a rise in demand for AI accelerators. DNN-specific functional criticality analysis identifies faults that cause measurable and significant deviations from acceptable requirements such as the inferencing accuracy. This paper examines...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Proceedings - IEEE VLSI Test Symposium S. 1 - 4
Hauptverfasser: Chaudhuri, Arjun, Talukdar, Jonti, Chakrabarty, Krishnendu
Format: Tagungsbericht
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: IEEE 25.04.2022
Schlagworte:
ISSN:2375-1053
Online-Zugang:Volltext
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