Analytical Modeling and Numerical Simulation of Nonlinear Thermal Effects in Bipolar Transistors

This paper addresses the problem of modeling nonlinear thermal effects in bipolar transistors under static conditions. The impact of these effects on the thermal resistance is explained in detail and analytically modeled using the assumption of a single-semiconductor device. FEM thermal simulations...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Collection of papers presented at the ... International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems s. 1 - 7
Hlavní autoři:	D'Alessandro, Vincenzo, Scognamillo, Ciro, Catalano, Antonio Pio, Muller, Markus, Schroter, Michael, Zampardi, Peter J., Codecasa, Lorenzo
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 28.09.2022
Témata:	Analytical models Bipolar transistors Numerical models Performance evaluation Solid modeling Thermal analysis Thermal resistance
ISSN:	2474-1523
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!