Deep learning framework for analyzing birefringence imaging by incorporating optical polarization overlap in stress-induced ferroelectric SrTiO3

Optical microscopy is vital in many scientific fields, and various super-resolution techniques have been developed to overcome the resolution limit that restricts the separation of spatially mixed light. However, conventional methods inherently cannot resolve overlapping optical polarization (OP) co...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Science and technology of advanced materials. Methods Ročník 5; číslo 1
Hlavní autoři: Hirotaka Manaka, Shoutarou Katayama, Soichiro Honda, Yoko Miura
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Taylor & Francis Group 31.12.2025
Témata:
ISSN:2766-0400
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.