Corrections to "Comprehensive Analysis of Design and Performance Evaluation Methodologies for a High-Resolution Read-Out IC With Ultralow 1/ f Corner for DC Measurement Applications"

Presents corrections to the paper, (Corrections to "Comprehensive Analysis of Design and Performance Evaluation Methodologies for a High-Resolution Read-Out IC With Ultralow 1/ f Corner for DC Measurement Applications").

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	IEEE transactions on instrumentation and measurement Ročník 74; s. 1
Hlavní autoři:	Kang, Junho, Han, Woosol, Kim, Suhwan, Jun, Jaehoon
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New York IEEE 2025 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:	Performance evaluation
ISSN:	0018-9456, 1557-9662
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!