Corrections to "Comprehensive Analysis of Design and Performance Evaluation Methodologies for a High-Resolution Read-Out IC With Ultralow 1/ f Corner for DC Measurement Applications"

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Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on instrumentation and measurement Jg. 74; S. 1
Hauptverfasser:	Kang, Junho, Han, Woosol, Kim, Suhwan, Jun, Jaehoon
Format:	Journal Article
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	New York IEEE 2025 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Schlagworte:	Performance evaluation
ISSN:	0018-9456, 1557-9662
Online-Zugang:	Volltext
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