Degradation modeling and remaining useful life prediction for electronic device under multiple stress influences

Power driver devices have functions such as current amplification and power conversion, making them key components of electronic systems. Their degradation is affected by multiple types of stress, making it difficult to establish an accurate degradation model. To monitor the degradation state of ele...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Scientific reports Ročník 15; číslo 1; s. 19117 - 16
Hlavní autori: Li, Changjun, Cheng, Jinjun, Zhu, Haizhen, Wen, Bincheng, Zhao, Xin, Kang, Weijie
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: London Nature Publishing Group UK 31.05.2025
Nature Publishing Group
Nature Portfolio
Predmet:
ISSN:2045-2322, 2045-2322
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.