Learning Local Objective Functions for Robust Face Model Fitting

Model-based techniques have proven to be successful in interpreting the large amount of information contained in images. Associated fitting algorithms search for the global optimum of an objective function, which should correspond to the best model fit in a given image. Although fitting algorithms h...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence Ročník 30; číslo 8; s. 1357 - 1370
Hlavní autoři: Wimmer, M., Stulp, F., Pietzsch, S., Radig, B.
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Los Alamitos, CA IEEE 01.08.2008
IEEE Computer Society
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:
ISSN:0162-8828, 1939-3539
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.