distect : automatic sample-position tracking for X-ray experiments using computer vision algorithms
Soft X-ray spectroscopy is an important technique for measuring the fundamental properties of materials. However, for measurements of samples in the sub-millimetre range, many experimental setups show limitations. Position drifts on the order of hundreds of micrometres during thermal stabilization o...
Uloženo v:
| Vydáno v: | Journal of synchrotron radiation Ročník 31; číslo 6; s. 1514 - 1524 |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , , , , , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
United States
John Wiley & Sons, Inc
01.11.2024
International Union of Crystallography |
| Témata: | |
| ISSN: | 1600-5775, 0909-0495, 1600-5775 |
| On-line přístup: | Získat plný text |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!