distect : automatic sample-position tracking for X-ray experiments using computer vision algorithms

Soft X-ray spectroscopy is an important technique for measuring the fundamental properties of materials. However, for measurements of samples in the sub-millimetre range, many experimental setups show limitations. Position drifts on the order of hundreds of micrometres during thermal stabilization o...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Journal of synchrotron radiation Ročník 31; číslo 6; s. 1514 - 1524
Hlavní autoři: Berg, Michael, Furrer, Dirk, Thominet, Vincent, Wang, Xiaoqiang, Zeugin, Stefan, Grabner, Helmut, Stockinger, Kurt, Piamonteze, Cinthia
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: United States John Wiley & Sons, Inc 01.11.2024
International Union of Crystallography
Témata:
ISSN:1600-5775, 0909-0495, 1600-5775
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.