distect : automatic sample-position tracking for X-ray experiments using computer vision algorithms
Soft X-ray spectroscopy is an important technique for measuring the fundamental properties of materials. However, for measurements of samples in the sub-millimetre range, many experimental setups show limitations. Position drifts on the order of hundreds of micrometres during thermal stabilization o...
Uložené v:
| Vydané v: | Journal of synchrotron radiation Ročník 31; číslo 6; s. 1514 - 1524 |
|---|---|
| Hlavní autori: | , , , , , , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
United States
John Wiley & Sons, Inc
01.11.2024
International Union of Crystallography |
| Predmet: | |
| ISSN: | 1600-5775, 0909-0495, 1600-5775 |
| On-line prístup: | Získať plný text |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!