distect : automatic sample-position tracking for X-ray experiments using computer vision algorithms

Soft X-ray spectroscopy is an important technique for measuring the fundamental properties of materials. However, for measurements of samples in the sub-millimetre range, many experimental setups show limitations. Position drifts on the order of hundreds of micrometres during thermal stabilization o...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Journal of synchrotron radiation Ročník 31; číslo 6; s. 1514 - 1524
Hlavní autori: Berg, Michael, Furrer, Dirk, Thominet, Vincent, Wang, Xiaoqiang, Zeugin, Stefan, Grabner, Helmut, Stockinger, Kurt, Piamonteze, Cinthia
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: United States John Wiley & Sons, Inc 01.11.2024
International Union of Crystallography
Predmet:
ISSN:1600-5775, 0909-0495, 1600-5775
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.