Multiple-Instance Learning Algorithms for Computer-Aided Detection
Many computer-aided diagnosis (CAD) problems can be best modelled as a multiple-instance learning (MIL) problem with unbalanced data, i.e., the training data typically consists of a few positive bags, and a very large number of negative instances. Existing MIL algorithms are much too computationally...
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| Veröffentlicht in: | IEEE transactions on biomedical engineering Jg. 55; H. 3; S. 1015 - 1021 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Journal Article |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
United States
IEEE
01.03.2008
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE) |
| Schlagworte: | |
| ISSN: | 0018-9294, 1558-2531 |
| Online-Zugang: | Volltext |
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