Decision support in machine vision system for monitoring of TFT-LCD glass substrates manufacturing

•Making an automatic inspection system for TFT-LCD glass substrates manufacturing.•Using wavelet co-occurrence signature from substrate images for feature extraction.•Comparing the performance of CART, optimized SVM and MLP classifiers using SA as the best classifier for proposed automatic inspectio...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Journal of process control Ročník 24; číslo 6; s. 1015 - 1023
Hlavní autoři:	Yousefian-Jazi, Ali, Ryu, Jun-Hyung, Yoon, Seongkyu, Liu, J. Jay
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Elsevier Ltd 01.06.2014
Témata:	Automatic optical inspection system Imbalanced data Parameter optimization Supervised classification Synthetic Minority Over-sampling TEchnique (SMOTE) TFT-LCD glass substrate Synthetic Minority Over-sampling TEchnique (SMOTE) Imbalanced data TFT-LCD glass substrate Parameter optimization Supervised classification Automatic optical inspection system
ISSN:	0959-1524, 1873-2771
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!