A Survey on Unsupervised Anomaly Detection Algorithms for Industrial Images

In line with the development of Industry 4.0, surface defect detection/anomaly detection becomes topical subject in industry field. Improving efficiency as well as saving labor costs has steadily become a matter of great concern in practice, where deep learning-based algorithms perform better than t...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:IEEE access Ročník 11; s. 1
Hlavní autori: Cui, Yajie, Liu, Zhaoxiang, Lian, Shiguo
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Piscataway IEEE 01.01.2023
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Predmet:
ISSN:2169-3536, 2169-3536
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.