A Survey on Unsupervised Anomaly Detection Algorithms for Industrial Images

In line with the development of Industry 4.0, surface defect detection/anomaly detection becomes topical subject in industry field. Improving efficiency as well as saving labor costs has steadily become a matter of great concern in practice, where deep learning-based algorithms perform better than t...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE access Ročník 11; s. 1
Hlavní autoři: Cui, Yajie, Liu, Zhaoxiang, Lian, Shiguo
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Piscataway IEEE 01.01.2023
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:
ISSN:2169-3536, 2169-3536
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.