Reflections on the Analysis of Interfaces and Grain Boundaries by Atom Probe Tomography

Interfaces play critical roles in materials and are usually both structurally and compositionally complex microstructural features. The precise characterization of their nature in three-dimensions at the atomic scale is one of the grand challenges for microscopy and microanalysis, as this informatio...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Microscopy and microanalysis Ročník 26; číslo 2; s. 247 - 257
Hlavní autori: Jenkins, Benjamin M., Danoix, Frédéric, Gouné, Mohamed, Bagot, Paul A.J., Peng, Zirong, Moody, Michael P., Gault, Baptiste
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: United States Oxford University Press 01.04.2020
Cambridge University Press
Predmet:
ISSN:1431-9276, 1435-8115, 1435-8115
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.