Reflections on the Analysis of Interfaces and Grain Boundaries by Atom Probe Tomography
Interfaces play critical roles in materials and are usually both structurally and compositionally complex microstructural features. The precise characterization of their nature in three-dimensions at the atomic scale is one of the grand challenges for microscopy and microanalysis, as this informatio...
Uložené v:
| Vydané v: | Microscopy and microanalysis Ročník 26; číslo 2; s. 247 - 257 |
|---|---|
| Hlavní autori: | , , , , , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
United States
Oxford University Press
01.04.2020
Cambridge University Press |
| Predmet: | |
| ISSN: | 1431-9276, 1435-8115, 1435-8115 |
| On-line prístup: | Získať plný text |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!