Reflections on the Analysis of Interfaces and Grain Boundaries by Atom Probe Tomography
Interfaces play critical roles in materials and are usually both structurally and compositionally complex microstructural features. The precise characterization of their nature in three-dimensions at the atomic scale is one of the grand challenges for microscopy and microanalysis, as this informatio...
Uloženo v:
| Vydáno v: | Microscopy and microanalysis Ročník 26; číslo 2; s. 247 - 257 |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , , , , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
United States
Oxford University Press
01.04.2020
Cambridge University Press |
| Témata: | |
| ISSN: | 1431-9276, 1435-8115, 1435-8115 |
| On-line přístup: | Získat plný text |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!