Reflections on the Analysis of Interfaces and Grain Boundaries by Atom Probe Tomography

Interfaces play critical roles in materials and are usually both structurally and compositionally complex microstructural features. The precise characterization of their nature in three-dimensions at the atomic scale is one of the grand challenges for microscopy and microanalysis, as this informatio...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Microscopy and microanalysis Ročník 26; číslo 2; s. 247 - 257
Hlavní autoři: Jenkins, Benjamin M., Danoix, Frédéric, Gouné, Mohamed, Bagot, Paul A.J., Peng, Zirong, Moody, Michael P., Gault, Baptiste
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: United States Oxford University Press 01.04.2020
Cambridge University Press
Témata:
ISSN:1431-9276, 1435-8115, 1435-8115
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.