Effect of sputtering pressure on structure and dielectric properties of bismuth magnesium niobate thin films prepared by RF magnetron sputtering
The cubic pyrochlore Bi1.5MgNb1.5O7 (BMN) thin films were deposited on Pt coated sapphire substrates by rf magnetron sputtering using different pressures. The effects of sputtering pressure on phase structure and dielectric properties of BMN thin films were investigated. The X-ray diffraction result...
Uloženo v:
| Vydáno v: | Thin solid films Ročník 603; s. 391 - 394 |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Elsevier B.V
31.03.2016
|
| Témata: | |
| ISSN: | 0040-6090, 1879-2731 |
| On-line přístup: | Získat plný text |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!