Simplified Birthday Statistics and Hamming EDAC

Space systems use error detection and correction (EDAC) schemes to protect memory contents from single event upsets (SEUs). Hamming EDAC is the preferred scheme for fast, random access memories. It allows for the correction of a single bit error within a word and the detection of a double bit error....

Celý popis

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	IEEE transactions on nuclear science Ročník 56; číslo 2; s. 474 - 478
Hlavní autor:	Tausch, H.J.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New York IEEE 01.04.2009 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:	Equations Error correction Error correction codes Error detection error detection coding Errors Event detection Hamming codes integrated circuit radiation effects Mathematical analysis memory architecture memory fault tolerance Permissible error Protection Radiation effects Random access memory Single event transient Single event upset Single event upsets Statistics
ISSN:	0018-9499, 1558-1578
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!