Adaptive Hierarchical Similarity Metric Learning with Noisy Labels
Deep Metric Learning (DML) plays a critical role in various machine learning tasks. However, most existing deep metric learning methods with binary similarity are sensitive to noisy labels, which are widely present in real-world data. Since these noisy labels often cause a severe performance degrada...
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| Veröffentlicht in: | IEEE transactions on image processing Jg. 32; S. 1 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Journal Article |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
United States
IEEE
01.01.2023
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE) |
| Schlagworte: | |
| ISSN: | 1057-7149, 1941-0042, 1941-0042 |
| Online-Zugang: | Volltext |
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