Parameter extraction method for universal amorphous silicon thin-film transistors simulation program with integrated circuit emphasis model

The universal simulation program with integrated circuit emphasis (SPICE) model for hydrogenated amorphous silicon thin-film transistor is largely used in circuit simulation. This model has more than 10 parameters to be extracted through experimental data, and the optimal method to determine them is...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:IET circuits, devices & systems Ročník 6; číslo 2; s. 118 - 121
Hlavní autori: Jin, J.W., Oudwan, M., Daineka, D., Moustapha, O., Bonnassieux, Y.
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Stevenage John Wiley & Sons, Inc 01.03.2012
Predmet:
ISSN:1751-858X, 1751-8598
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.