Fault-tolerant deep learning inference on CPU-GPU integrated edge devices with TEEs

CPU-GPU integrated edge devices and deep learning algorithms have received significant progress in recent years, leading to increasingly widespread application of edge intelligence. However, deep learning inference on these edge devices is vulnerable to Fault Injection Attacks (FIAs) that can modify...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Future generation computer systems Ročník 161; s. 404 - 414
Hlavní autori: Xu, Hongjian, Liao, Longlong, Liu, Xinqi, Chen, Shuguang, Chen, Jianguo, Liang, Zhixuan, Yu, Yuanlong
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Elsevier B.V 01.12.2024
Predmet:
ISSN:0167-739X
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.