Fault-tolerant deep learning inference on CPU-GPU integrated edge devices with TEEs

CPU-GPU integrated edge devices and deep learning algorithms have received significant progress in recent years, leading to increasingly widespread application of edge intelligence. However, deep learning inference on these edge devices is vulnerable to Fault Injection Attacks (FIAs) that can modify...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Future generation computer systems Ročník 161; s. 404 - 414
Hlavní autoři: Xu, Hongjian, Liao, Longlong, Liu, Xinqi, Chen, Shuguang, Chen, Jianguo, Liang, Zhixuan, Yu, Yuanlong
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Elsevier B.V 01.12.2024
Témata:
ISSN:0167-739X
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.