Dynamic dispatching system using a deep denoising autoencoder for semiconductor manufacturing

Deep denoising autoencoders (DDAE), which are variants of the autoencoder, have shown outstanding performance in various machine learning tasks. In this study, we propose using a DDAE to address a dispatching rule selection problem that represents a major problem in semiconductor manufacturing. Rece...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Applied soft computing Ročník 86; s. 105904
Hlavní autoři:	Lee, Sangmin, Kim, Hae Joong, Kim, Seoung Bum
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Elsevier B.V 01.01.2020
Témata:	Class imbalance problem Deep denoising autoencoder Dispatching rule selection Novelty detection Storage allocation Dispatching rule selection Storage allocation Deep denoising autoencoder Novelty detection Class imbalance problem
ISSN:	1568-4946, 1872-9681
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!