Multithreaded and Reconvergent Aware Algorithms for Accurate Digital Circuits Reliability Estimation

Until recently, reliability was not considered to be a major design concern for circuit designers, except in the case of space and mission critical applications. However, the aggressive scaling of CMOS devices has significantly affected their reliable operation. Several schemes have been used for mi...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE transactions on reliability Ročník 68; číslo 2; s. 514 - 525
Hlavní autoři: Ibrahim, Walid, Ibrahim, Hazem
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: New York IEEE 01.06.2019
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:
ISSN:0018-9529, 1558-1721
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.