Characterisation of multi-layered structures using a vector-based gradient descent algorithm at terahertz frequencies

Material characterisation and imaging applications using terahertz radiation have gained interest in the past few years due to their enormous potential for industrial applications. The availability of fast terahertz spectrometers or multi-pixel terahertz cameras has accelerated research in this doma...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Optics express Ročník 31; číslo 9; s. 15131
Hlavní autoři: Mukherjee, Amlan kusum, Wassmann, Sven, Wenzel, Konstantin, Globisch, Björn, Kohlhaas, Robert, Liebermeister, Lars, Preu, Sascha
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: United States 24.04.2023
ISSN:1094-4087, 1094-4087
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.