Analysing EM scattering from randomly rough surfaces using stochastic second-degree iterative method, sparse matrix algorithm and Chebyshev approximation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Electronics letters Jg. 45; H. 6; S. 292 - 293
Hauptverfasser: Du, Y., Shi, J.C., Li, Z.Y., Kong, J.A.
Format: Journal Article
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Stevenage Institution of Engineering and Technology 12.03.2009
Schlagworte:
ISSN:0013-5194, 1350-911X
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
ISSN:0013-5194
1350-911X
DOI:10.1049/el.2009.2543