Analysing EM scattering from randomly rough surfaces using stochastic second-degree iterative method, sparse matrix algorithm and Chebyshev approximation

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Electronics letters Ročník 45; číslo 6; s. 292 - 293
Hlavní autoři: Du, Y., Shi, J.C., Li, Z.Y., Kong, J.A.
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Stevenage Institution of Engineering and Technology 12.03.2009
Témata:
ISSN:0013-5194, 1350-911X
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Popis
ISSN:0013-5194
1350-911X
DOI:10.1049/el.2009.2543