Full-Scale Regression Modeling of Spatial Details for Single-/Multiplatform Hypersharpening

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Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on geoscience and remote sensing Jg. 63; S. 1 - 16
Hauptverfasser:	Arienzo, Alberto, Garzelli, Andrea, Alparone, Luciano, Vivone, Gemine
Format:	Journal Article
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	New York IEEE 2025 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Schlagworte:	Band spectra Closed form solutions Degradation Environmental Mapping and Analysis Program (EnMAP) hypersharpening Matrix decomposition multiband image fusion Multisensor fusion multivariate linear regression (MLR) Optical imaging optical remote sensing Optical sensors Optimization Pansharpening Parameters Reviews Sentinel-2 (S2) Spatial data Spatial resolution Spectral bands Tensors Training unimodal fusion WorldView-3 (WV-3)
ISSN:	0196-2892, 1558-0644
Online-Zugang:	Volltext
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