Depth Profile Analysis on the Nanometer Scale by a Combination of Electron Probe Microanalysis (EPMA) and Focused Ion Beam Specimen Preparation (FIB)

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	Mikrochimica acta (1966) Ročník 145; číslo 1-4; s. 187 - 192
Hlavní autoři:	B ckins, Matthias, Aretz, Anke, Richter, Silvia, Kyrsta, Stepan, Sp hn, Michael, Mayer, Joachim
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	01.04.2004
ISSN:	0026-3672, 1436-5073
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Popis
ISSN:	0026-3672 1436-5073
DOI:	10.1007/s00604-003-0151-9