Depth Profile Analysis on the Nanometer Scale by a Combination of Electron Probe Microanalysis (EPMA) and Focused Ion Beam Specimen Preparation (FIB)

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Vydané v:	Mikrochimica acta (1966) Ročník 145; číslo 1-4; s. 187 - 192
Hlavní autori:	B ckins, Matthias, Aretz, Anke, Richter, Silvia, Kyrsta, Stepan, Sp hn, Michael, Mayer, Joachim
Médium:	Journal Article
Jazyk:	English
Vydavateľské údaje:	01.04.2004
ISSN:	0026-3672, 1436-5073
On-line prístup:	Získať plný text
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

Popis
ISSN:	0026-3672 1436-5073
DOI:	10.1007/s00604-003-0151-9