A Metal Film Thickness Measurement System With a Large Range Based on High-Performance ME Sensors
The majority of traditional eddy current-based metal film thickness measurement systems measure the thickness of the metal film by detecting changes in the impedance or voltage of the detection coil, leading to limited measurement range and susceptibility to measurement errors caused by variations i...
Uloženo v:
| Vydáno v: | IEEE/ASME transactions on mechatronics s. 1 - 10 |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , , , , , , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
IEEE
2025
|
| Témata: | |
| ISSN: | 1083-4435, 1941-014X |
| On-line přístup: | Získat plný text |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!