A Metal Film Thickness Measurement System With a Large Range Based on High-Performance ME Sensors

The majority of traditional eddy current-based metal film thickness measurement systems measure the thickness of the metal film by detecting changes in the impedance or voltage of the detection coil, leading to limited measurement range and susceptibility to measurement errors caused by variations i...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE/ASME transactions on mechatronics s. 1 - 10
Hlavní autoři: Qiu, Yang, Shi, Lingshan, Yu, Guoliang, Zhu, Mingmin, Li, Yan, Wang, Jiawei, Zhang, Shulin, Ren, Kun, Zhou, Haomiao
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: IEEE 2025
Témata:
ISSN:1083-4435, 1941-014X
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.