Editorial: Introduction to the Special Issue on AI, Machine Learning, and Deep Learning: Advances and Applications for EMC

Not many technologies have ever captured the public imagination as widely and abruptly as artificial intelligence (AI). While AI has been a staple of science fiction for decades with actual applications in engineering and sciences for many years, it is only in the last year or so that generative AI...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	IEEE transactions on electromagnetic compatibility Ročník 66; číslo 6; s. 1926 - 1927
Hlavní autoři:	Duffy, Alistair, Liu, En-Xiao
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 01.12.2024
Témata:	Artificial intelligence Deep learning Electromagnetic compatibility Machine learning Special issues and sections
ISSN:	0018-9375, 1558-187X
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!