Investigation of the optical properties of Pb1-xCdxTe films using spectroscopic ellipsometry

•Single phase rock-salt Pb1-xCdxTe (0 ≤ x ≤ 0.15) films were produced.•The lattice constant of Pb1-xCdxTe decreases as a function of Cd concentration.•The band gap of Pb1-xCdxTe blue shifts as the Cd concentration increases.•The index of refraction decreased by ∼10 % as Cd increases. Using spectrosc...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Thin solid films Ročník 802; s. 140450
Hlavní autoři:	Kovach, Samuel, Maksimov, Oleg, Bhattacharya, Pijush, Peiris, Frank
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Elsevier B.V 15.08.2024
Témata:	Critical points Lead cadmium telluride Spectroscopic ellipsometry Vertical Bridgman Lead cadmium telluride Spectroscopic ellipsometry Critical points Vertical Bridgman
ISSN:	0040-6090
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!