Call for Papers: Special Issue on AI, Machine Learning, and Deep Learning: Advances and Applications for EMC

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on electromagnetic compatibility Jg. 65; H. 6; S. 1939 - 1940
Format: Journal Article
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: New York IEEE 01.12.2023
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Schlagworte:
Deep learning
Machine learning
ISSN:0018-9375, 1558-187X
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Bibliographie:ObjectType-Article-1
SourceType-Scholarly Journals-1
ObjectType-Feature-2
content type line 14
ISSN:0018-9375
1558-187X
DOI:10.1109/TEMC.2023.3324243