Раскол элит: кризис элитности уходящей империи
Современное состояние американских политических элит многими исследователи оценивается как кризис идентичности, как раскол единства внутри правящего класса. Этот кризис происходит на фоне угасающего мирового лидерства США, когда его весьма успешно и в сфере экономики, и в сфере политики, и в сфере н...
Uložené v:
| Vydané v: | Voprosy èlitologii Ročník 2; číslo 2; s. 105 - 122 |
|---|---|
| Hlavný autor: | |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
Limited Liability Company Scientific Industrial Enterprise “Genesis. Frontier. Science”
19.07.2021
|
| Predmet: | |
| ISSN: | 2712-8415, 2712-8415 |
| On-line prístup: | Získať plný text |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
| Shrnutí: | Современное состояние американских политических элит многими исследователи оценивается как кризис идентичности, как раскол единства внутри правящего класса. Этот кризис происходит на фоне угасающего мирового лидерства США, когда его весьма успешно и в сфере экономики, и в сфере политики, и в сфере научных технологий теснят зарождающиеся молодые азиатские гиганты (Китай и Индия). В этих условиях политические американские элиты оказались в состоянии кризиса стратегического планирования – их прежние проекты не принесли им желаемых результатов, а нового плана они не успели ещё сформулировать. Положение усугубил внутренний раскол американских элит, которые не смогли достичь консенсуса и договориться по принципиально важным вопросам. Раскол американских элит стал свидетельством их внутренней слабости и ограниченной способности стратегического планирования. Президентские выборы 2020 г. лишь подтвердили этот печальный для них диагноз. Все эти деструктивные процессы происходят на фоне усилившейся фальсификации (fake news), которая еще больше разрушает изнутри политическое единство правящего в стране класса. Работа посвящена анализу качественного состояния американских политических элит и их лидеров. |
|---|---|
| ISSN: | 2712-8415 2712-8415 |
| DOI: | 10.46539/elit.v2i2.65 |