Call for Papers: Special Issue on AI, Machine Learning, and Deep Learning: Advances and Applications for EMC

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:IEEE transactions on electromagnetic compatibility Ročník 65; číslo 6; s. 2070 - 2071
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: IEEE 01.12.2023
ISSN:0018-9375, 1558-187X
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.