Proceedings : IEEE Workshop on Multi-View Modeling & Analysis of Visual Scenes : June 26, 1999 Fort Collins, Colorado

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Los Alamitos, Calif IEEE Computer Society 1999
ISBN:0769501109, 9780769501109
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Popis
Bibliografie:IEEE Computer Society Order Number : PRO0110
Includes bibliographical references and index
ISBN:0769501109
9780769501109