An empirical study of the effects of test-suite reduction on fault localization

Fault-localization techniques that utilize information about all test cases in a test suite have been presented. These techniques use various approaches to identify the likely faulty part(s) of a program, based on information about the execution of the program with the test suite. Researchers have b...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	2008 ACM/IEEE 30th International Conference on Software Engineering Ročník 2008; číslo 24; s. 201 - 210
Hlavní autoři:	Yanbing Yu, Jones, J.A., Harrold, M.J.
Médium:	Konferenční příspěvek Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 01.01.2008
Témata:	Educational institutions empirical study Fault diagnosis fault localization Permission Size measurement Software debugging Software engineering Software testing test-suite reduction
ISBN:	1424444861, 9781424444861, 1605580791, 9781605580791
ISSN:	0270-5257
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!