Post-routing redundant via insertion for yield/reliability improvement

Reducing the yield loss due to via failure is one of the important problems in design for manufacturability. A well known and highly recommended method to improve via yield/reliability is to add redundant vias. In this paper we study the problem of post-routing redundant via insertion and formulate...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Proceedings of the 2006 Asia and South Pacific Design Automation Conference s. 303 - 308
Hlavní autoři: Lee, Kuang-Yao, Wang, Ting-Chi
Médium: Konferenční příspěvek
Jazyk:angličtina
Vydáno: Piscataway, NJ, USA IEEE Press 01.01.2006
Edice:ACM Conferences
Témata:
ISBN:9780780394513, 0780394518
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.