Automatic functional test generation using the extended finite state machine model

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	DAC 93: 30th ACM-IEEE Design Automation s. 86 - 91
Hlavní autoři:	Cheng, Kwang Ting, Krishnakumar, A. S.
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New York, NY, USA ACM 01.01.1993
Edice:	ACM Conferences
Témata:	Hardware > Hardware test > Test-pattern generation and fault simulation Hardware > Integrated circuits > Logic circuits Hardware > Integrated circuits > Logic circuits > Sequential circuits Mathematics of computing > Discrete mathematics > Graph theory > Graph algorithms Mathematics of computing > Discrete mathematics > Graph theory > Trees Software and its engineering > Software notations and tools > General programming languages > Language types Theory of computation > Formal languages and automata theory
ISBN:	9780897915779, 0897915771
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!